jueves, 11 de abril de 2013

Un nuevo modo de microscopía magnética analiza discos duros con más resolución

Un equipo del Instituto de Microelectrónica de Madrid (CSIC) ha desarrollado una nueva técnica de análisis de discos duros que mejora en un 15% la resolución alcanzada hasta ahora, además de hacer visibles bits enmascarados. El trabajo se publica en la revista Nanotechnology.



Fuente: Noticias

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