Investigadores del sincrotrón ALBA, el Instituto de Microelectrónica de Barcelona y una empresa han desarrollado un sistema compacto y portátil para la caracterización de rayos X que permite medir de manera precisa la intensidad del haz de luz, lo que mejora la calidad de los datos y reduce los tiempos en los experimentos que se llevan a cabo en esta instalación. Sus autores esperan vender estos detectores a otros centros en pocos meses.
Fuente: Noticias
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