Un equipo internacional de científicos ha desarrollado un método que permite determinar la densidad de defectos en nanomateriales bidimensionales, como el grafeno, gracias a medidas de los cambios en la coherencia espacial de la luz que incide sobre ellos. El estudio, en el que ha participado un investigador de la Universidad Politécnica de Madrid, demuestra que existe una relación entre las propiedades estructurales del grafeno y las de la luz.
Fuente: Noticias
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